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                  粒度和粒度分布測定法 中國藥典2020版三部三部 通則0982

                  中國藥典2020版三部三部

                  通則0982

                  粒度和粒度分布測定法


                         本法用于測定原料藥和藥物制劑的粒子大小或粒度分布。其中第一法、第二法用于測定藥物制劑的粒子大小或限度,第三法用于測定原料藥或藥物制劑的粒度分布。

                    第一法(顯微鏡法)
                    本法中的粒度,系以顯微鏡下觀察到的長度表示。
                    目鏡測微尺的標定  照顯微鑒別法(通則2001)標定目鏡測微尺。
                    測定法  取供試品,用力搖勻,黏度較大者可按各品種項下的規定加適量甘油溶液(1→2)稀釋,照該劑型或各品種項下的規定,量取供試品,置載玻片上,覆以蓋玻片,輕壓使顆粒分布均勻,注意防止氣泡混入,半固體可直接涂在載玻片上,立即在50~100倍顯微鏡下檢視蓋玻片全部視野,應無凝聚現象,并不得檢出該劑型或各品種項下規定的50μm及以上的粒子。再在200~500倍的顯微鏡下檢視該劑型或各品種項下規定的視野內的總粒數及規定大小的粒數,并計算其所占比例(%)。
                    第二法(篩分法)
                    篩分法一般分為手動篩分法、機械篩分法與空氣噴射篩分法。手動篩分法和機械篩分法適用于測定大部分粒徑大于75um的樣品。對于粒徑小于75μm的樣品,則應釆用空氣噴射篩分法或其他適宜的方法。
                    機械篩分法系釆用機械方法或電磁方法,產生垂直振動、水平圓周運動、拍打、拍打與水平圓周運動相結合等振動方式?諝鈬娚浜Y分法則采用流動的空氣流帶動顆粒運動。
                    篩分試驗時需注意環境濕度,防止樣品吸水或失水。對易產生靜電的樣品,可加入0.5%膠質二氧化硅和(或)氧化鋁等抗靜電劑,以減小靜電作用產生的影響。
                    1.手動篩分法
                   。1)單篩分法  稱取各品種項下規定的供試品,置規定號的藥篩中(篩下配有密合的接收容器),篩上加蓋。按水平方向旋轉振搖至少3分鐘,并不時在垂直方向輕叩篩。取篩下的顆粒及粉末,稱定重量,計算其所占比例(%)。
                   。2)雙篩分法  取單劑量包裝的5袋(瓶)或多劑量包裝的1袋(瓶),稱定重量,置該劑型或品種項下規定的上層(孔徑大的)藥篩中(下層的篩下配有密合的接收容器),保持水平狀態過篩,左右往返,邊篩動邊拍打3分鐘。取不能通過大孔徑篩和能通過小孔徑篩的顆粒及粉末,稱定重量,計算其所占比例(%)。
                    2.機械篩分法
                    除另有規定外,取直徑為200mm規定號的藥篩和接收容器,稱定重量,根據供試品的容積密度,稱取供試品25~100g,置最上層(孔徑最大的)藥篩中(最下層的篩下配有密合的接收容器),篩上加蓋。設定振動方式和振動頻率,振動5分鐘。取各藥篩與接收容器,稱定重量,根據篩分前后的重量差異計算各藥篩上和接收容器內顆粒及粉末所占比例(%)。重復上述操作直至連續兩次篩分后,各藥篩上遺留顆粒及粉末重量的差異不超過前次遺留顆粒及粉末重量的5%或兩次重量的差值不大于0.1g;若某一藥篩上遺留顆粒及粉末的重量小于供試品取樣量的5%,則該藥篩連續兩次的重量差異應不超過20%。
                    3.空氣噴射篩分法
                    每次篩分時僅使用一個藥篩。如需測定顆粒大小分布,應從孔徑最小的藥篩開始順序進行。除另有規定外,取直徑為200mm規定號的藥篩,稱定重量,根據供試品的容積密度,稱取供試品25~100g,置藥篩中,篩上加蓋。設定壓力,噴射5分鐘。取藥篩,稱定重量,根據篩分前后的重量差異計算藥篩上顆粒及粉末所占比例(%)。重復上述操作直至連續兩次篩分后,藥篩上遺留顆粒及粉末重量的差異不超過前次遺留顆粒及粉末重量的5%或兩次重量的差值不大于0.1g;若藥篩上遺留的顆粒及粉末重量小于供試品取樣量的5%,則連續兩次的重量差異應不超過20%。
                    第三法(光散射法)
                    單色光束照射到顆粒供試品后即發生散射現象。由于散射光的能量分布與顆粒的大小有關,通過測量散射光的能量分布(散射角),依據米氏散射理論和弗朗霍夫近似理論,即可計算出顆粒的粒度分布。本法的測量范圍可達0.02~3500μm。所用儀器為激光散射粒度分布儀。
                    1.對儀器的一般要求
                    散射儀 光源發出的激光強度應穩定,并且能夠自動扣除電子背景和光學背景等的干擾。
                    采用粒徑分布特征值[d(0.1)、d(0.5)、d(0.9)]已知的“標準粒子”對儀器進行評價。通常用相對標準偏差(RSD)表征“標準粒子”的粒徑分布范圍,當RSD小于50%(最大粒徑與最小粒徑的比率約為10:1)時,平行測定5次,“標準粒子”的d(0.5)均值與其特征值的偏差應小于3%,平行測定的RSD不得過3%;“標準粒子”的d(0.1)和d(0.9)均值與其特征值的偏差均應小于5%,平行測定的RSD均不得過5%;對粒徑小于10μm的“標準粒子”,測定的d(0.5)均值與其特征值的偏差應小于6%,平行測定的RSD不得過6%;d(0.1)和d(0.9)的均值與其特征值的偏差均應小于10%,平行測定的RSD均不得過10%。
                    2.測定法
                    根據供試品的性狀和溶解性能,選擇濕法測定或干法測定;濕法測定用于測定混懸供試品或不溶于分散介質的供試品,干法測定用于測定水溶性或無合適分散介質的固態供試品。
                    濕法測定  濕法測定的檢測下限通常為20nm。
                    根據供試品的特性,選擇適宜的分散方法使供試品分散成穩定的混懸液;通?刹捎梦锢矸稚⒌姆椒ㄈ绯、攪拌等,通過調節超聲功率和攪拌速度,必要時可加入適量的化學分散劑或表面活性劑,使分散體系成穩定狀態,以保證供試品能夠均勻穩定地通過檢測窗口,得到準確的測定結果。
                    只有當分散體系的雙電層電位(ζ電位)處于一定范圍內,體系才處于穩定狀態,因此,在制備供試品的分散體系時,應注意測量體系ζ電位,以保證分散體系的重現性。
                    濕法測量所需要的供試品量通常應達到檢測器遮光度范圍的8%~20%;最先進的激光粒度儀對遮光度的下限要求可低至0.2%。
                    干法測定  干法測定的檢測下限通常為200nm。
                    通常采用密閉測量法,以減少供試品吸潮。選用的干法進樣器及樣品池需克服偏流效應,根據供試品分散的難易,調節分散器的氣流壓力,使不同大小的粒子以同樣的速度均勻穩定地通過檢測窗口,以得到準確的測定結果。
                    對于化學原料藥,應采用噴射式分散器。在樣品盤中先加入適量的金屬小球,再加入供試品,調節振動進樣速度、分散氣壓(通常為0~0.4MPa)和樣品出口的狹縫寬度,以控制供試品的分散程度和通過檢測器的供試品量。
                    干法測量所需要的供試品量通常應達到檢測器遮光度范圍的0.5%~5%。
                    【附注】(1)儀器光學參數的設置與供試品的粒度分布有關。粒徑大于10μm的微粒,對系統折光率和吸光度的影響較;粒徑小于10μm的微粒,對系統折光率和吸光度的影響較大。在對不同原料和制劑的粒度進行分析時,目前還沒有成熟的理論用于指導對儀器光學參數的設置,應由實驗比較決定,并采用標準粒子對儀器進行校準。
                   。2)對有色物質、乳化液和粒徑小于10μm的物質進行粒度分布測量時,為了減少測量誤差,應使用米氏理論計算結果,避免使用以弗朗霍夫近似理論為基礎的計算公式。
                   。3)對粒徑分布范圍較寬的供試品進行測定時,不宜采用分段測量的方法,而應使用涵蓋整個測量范圍的單一量程檢測器,以減少測量誤差。


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